首先,从上述实验中,可以看出调节激光器的电流和激光扫描时间到适当的值,是可以实现对有源晶振进行频率微调的。虽然实验中微调的量最小也是kHz数量级,但从两组数据中可以看出只要电流和扫描时间调节的得当,进行几Hz~几百Hz数量级的频率微调也是可行的,亦即实现ppm级的频率精度。
  其次,从实现数据中可以看出频率微调量在扫描时间固定的情况下,并不是与激光电流完全成正比;而在激光电流固定的情况下,也不是与扫描时间完全成正比的。这一方面可能与表面银层对于激光的反射作用有关,大量的激光束被银层反射回去,没能用于对表面电极层进行气化,只有通过加大激光电流的办法来加强对表面的轰击。但这样一来很容易造成石英晶体振荡器频率微调量过大,超出了想要的频率微调数量级的现象。
  另一方面可能与整个激光频率微调实验进行的环境有关。整个激光频率微调实验完全在大气环境下进行,受激光扫描而气化的分子受大气中的分子颗粒的散射作用,重新返回晶片表面,堆积在表面其他地方。这样实际上晶片的质量并没

有减小,由Sauerbrey方程:

可知质量没有改变就不会对频率产生微调,因而网络分析仪就测量不出频率的变化。这样实验时就会继续加大激光电流或是增加激光照射或扫描时间。而这样是不对的。因为实际上气化过程在频率真正得到改变前就已经发生了,只是晶片总质量没有改变从而不会对频率产生影响。当增强后的激光照射在晶振片表面时,有可能电流过大,穿透表面银层,产生与图3.5类似的情形,造成实验失败。

此外,从实现数据可以看出,激光扫描电流和激光扫描时间两个参数并不是独立作用的,并不是增加或减少其中的一个就可以直接影响频率微调量的。因而需要两个参数相互配合,在实验的基础上达到一个最佳平衡点。
   从实验中可以推断,除了激光扫描电流和激光扫描时间两个参数外,还有其它的参数影响着石英晶振实验结果。如:气压,气温,甚至激光扫描路径。因而需要大量、反复的实验来找出这些关系,进而找到实现精确频率微调的最佳方案。
本章为论文研究的第一部分—激光频率微调的可行性研究,本章在上一章的基础之上,首先从理论上分析了激光频率微调的可行性。从Sauerbrey公式出发,对石英晶振的表面电极层厚度和频率改变量进行了转化,从理论上证明用激光照射或扫描晶片表面电极层,使其厚度改变,从而改变频率的方案是可行的。
  我们又通过实验来进一步证实激光确实对SMD晶振起到了频率微调的作用。由于主要目的是为了验证其可行性,因而实验设备相对简单。从实验结果中,可以看出调节激光器的电流和激光扫描时间到适当的值,是可以实现对石英晶体振荡器进行频率微调的,初步实验达到了khLz数量级的频率微调量。同时,在实验中还发现,频率微调量并不是与激光电流的大小或是扫描时间的长短成简单的线性关系,在后面的实验中发现实际激光频率微调量是与激光电流、激光频率、Q脉冲宽度、扫描时间、工作环境等多种因素有关的。
  本章从理论和实验两方面验证了贴片晶振激光频率微调的可行性,这为下面展开实验和研究工作奠定了基础。下一章我们研究论文的第二部分—激光频率微调的机理研究。
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