今天CEOB2B晶振平台该篇文章主要需要讲解的是在测试石英晶振是需要哪些设备.

1.解析目的与步骤

a)  实际量测电路板上频率波型与公差.

b) 量测振荡电路负性电阻值 –R .

c) 调整C1 C2电容以得到更大的频率变化宽裕度.

d) 根据以上电路板量测数据建议适当振荡子规格.

2.分析过程中使用到之设备

量测负性阻抗

量测负性阻抗目的是避免振荡器无法起振，石英晶体振荡器无法起振的原因是负性阻抗宽裕度不够导致，为避免此现象发生于设计时负性阻抗一般至少是 ESR的三倍以上，反之若太小时则会发生偶尔不起振的现象发生.

输出端串接一个可变电阻，可变电阻调至最小，上电源让电路正常动作，调整可变电阻，将之调大，直至振荡器不起振，确定不起振后，再将可变电阻转小，观测波形，持续将可变电阻调小到振荡器开始振荡波形正常后，关闭电源，再打开电源，若振荡器依旧可以起振，这时候可变电阻上的阻抗值再加上2仪器所测得振荡器单体的电阻值即为负性阻抗值.

负载电容匹配

1.于振荡电路产生的振荡回路来看，不同的负载电容会有不同程度贴片晶振频率飘移，因此设计时必须针对产品实际的负载电容做量测以确定是否与当初设计规格一致

2.理论值负载电容计算方式如下,由C51 C52计算串联电容后加上离散电容等于实际的负载电容，杂散电容内含PCB Layout、芯片电极等等因素造成.

CL=C51*C52/(C51+C52)+C0+Cs;