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石英晶振的形成与磁力显微镜有关系吗?

返回列表 来源:CEOB2B晶振平台 浏览:- 发布日期:2018-03-09 09:02:39【

1绪论

  每一个智能产品乃至一个产品的形成,都经过了几十道乃至更多的工序形成,才能做成成品推出市场,频率元器件也是一样的,无论是石英晶振还是贴片晶振或是带电压的石英晶体振荡器,都像是经过了千雕万凿才形成的,下面就按照步骤一步步的给大概的讲述一下有关于贴片晶振的一些知识。

磁力显微镜(MFM)的发展历史

MFM是一种扫描探针显微镜(SPM),它的探针是一个微小的铁磁性针尖在磁性材料表面上方扫描时能感受到样品杂散磁场的微小的作用力,探测这个力就能得到产生杂散磁场的表面磁结构的信息。要了解MFM,必须从扫描隧道显微镜(STM)谈起。STM Binnig Rohrer1982年发明的,SPM家族中的第一个成员uSTM基于量子隧道效应。

当一个原子尺度的金属针尖非常接近样品,在有外电场存在时,就有隧道电流I:发生。L1强烈地依赖于针尖与样品之间的距离,比如0.lnm距离的微小变化就能使1:改变一个数量级因而探测I1就能得到具有原子分辨率的样品表面三维图象。STM能获得表面电子结构信息,可在大气、真空、低温及液体覆盖下使用,因而被广泛应用于表面科学、材料科学、生命科学及微电子技术等领域。事实上,STM的发明极大地推动了纳米科技的发展。然而,由于在操作中需要施加偏电压,因而STM只能用于导体和半导体之中了,如石英晶体振荡器

yuanzilixianweijing

1986年问世的原子力显微镜〔AFM)SPM家族中的第二个成员12],其原理是当针尖顶部原子的电子云压迫样品表面原子的电子云时,会产生微弱的排斥力,如范德瓦尔斯( Van der waals)力、静电力等,且力随样品表面形貌而变化。如果用激光束探测针尖悬臂的位移的方法来探测该原子力,就能得到原子分辨率的样品形貌图象13。由于AFM不需要施加偏压,能应用于广阔的领域。更重要的是AFM能够探测任何类型的力如磁力显微镜(MFM)、电力显微镜(EFM)、摩擦力显微镜(FFM)等。

众所周知,磁相互作用是长程的磁偶极作用,因而如果AFM的探针是铁磁性的,而且磁针尖在磁性材料表面上以恒定的高度扫描,就能感受到磁性材料表面的杂散磁场的磁作用力,因而,探测磁力梯度的分布就能得到产生杂散

磁场的磁畴(包括写入的磁斑)、磁畴壁,以及畴壁中的微结构等表面磁结构的信息,这就是MFM。纳米尺度的磁针尖加上纳米尺度的扫描高度使磁性材料表面磁结构的探测精细到纳米尺度,这就是MFM这个新工具的特点和意义。第一台MFM Martin等人在1987年研制成功的14。在1987-1991年期世界上一些重要的实验室自行研制形式各异的MFM,对磁性材料的MFM研究作了探索和实践。大约从1992年起,MFM的产品已推向市场,使得MFM的操作规范和简化了,可靠性提高了,因而广泛地应用于各种磁性材料的研究。

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