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遥遥领先Siward石英晶体常见问题

返回列表 来源:CEOB2B晶振平台 浏览:- 发布日期:2023-09-27 13:38:25【

遥遥领先Siward石英晶体常见问题

晶振电路无信号输出?

如果使用示波器或频率计在晶体的两个端子上没有测量到信号输出,请按照说明确定因素和可能的解决方案。
步骤1-1。请检查晶振输入端(Xin)和输出端(Xout)的电压,并检查电压是否符合IC规范。
步骤1-2。请卸载晶体,并使用专业测试机器测试其频率和负载电容,看看它们是否振动并符合您的规格。您也可以将其发送给供应商,让他们为您进行测试。
步骤1-3。如果石英晶体不振动,其负载电容与您的规格不匹配,或者当前频率与您的目标频率之间存在巨大差距,请将晶体发送给您的供应商进行质量分析。
步骤1-4。如果频率和负载电容符合你的规格,但问题也存在。需要执行振荡电路评估。您也可以将其发送给供应商,让他们为您进行测试。
步骤1-5。下图所示为一般振荡电路,其中Cd和Cg为外部负载电容,Rf为反馈电阻,Rd为限流电阻。



负电阻(-R)是评价振荡电路好坏的标准,其值至少应为石英晶振电阻的5倍,以维持稳定的振荡。因此,按照以下说明测量负电阻非常重要:



(1)将电阻(Rx)与晶体串联
(2)从振荡的起点到终点调整Rx的值。
(3)测量振荡期间Rx的值。
(4)你将能够获得负电阻的值,|-R| = Rx + Re,Re =有效晶体电阻。
步骤1-6。如果IC的负电阻太低,无法驱动电路,我们提出三种解决方案来改善这种情况。
(1)降低限制电阻器(Rd)的值。但是,您还应该确认频移和贴片晶振晶体驱动电流是否同时符合规格。
(2)降低外部电容(Cg和Cd)的值,采用负载电容(CL)较低的其他晶体。
(3)采用电阻(Rr)较低的晶体。


由于频率输出的偏差超过极限,系统无法运行?

步骤2-1。如果频率计测得的频率超出限值,我们应增加外部电容CL(或Cd & Cg的值),以将频率降低至我们的目标频率,反之亦然。
第2-2步。如果频率远高于目标频率,我们可以采用电容较低的晶体,反之亦然。


晶体参数的测试方法是什么?

将“pi电路”连接到具有测量等效常数功能的网络分析仪,并进行测量。JIS和IEC规定了“pi电路”的形状和内部电阻,如下所示。



如何描绘振荡器电路的工作原理?

晶体控制振荡器可被视为由一个放大器和一个反馈网络组成,该反馈网络选择放大器输出的一部分并将其返回到放大器输入。这种电路的一般描述如下所示。


为了使振荡器电路工作,必须满足两个条件:(A)环路功率增益必须等于1。(B)环路相移必须等于0、2π、4π等。弧度


什么是串联或并联谐振频率?

从下图可以明显看出,石英晶体单元有两个零相位频率。第一个,或两者中较低的,是串联谐振频率,通常缩写为Fs。零相位的两个频率中的第二个或更高的频率是平行或反谐振频率,通常缩写为Fa。在石英晶体振荡器电路中,串联和并联谐振频率都表现为电阻性。在串联谐振点,电阻最小,电流最大。



在并联点,电阻最大,电流最小。因此,并联谐振频率Fa不得用作振荡器电路的控制频率。
通过在振荡器电路的反馈回路中包含电抗元件(通常是电容器),可以使石英晶体单元在串联和并联谐振点之间的线上的任意点振荡。

fs和fa频率由压电陶瓷材料及其物理参数决定。等效电路常数可由以下公式确定:

晶体的CL值是多少?它对什么有影响?

所有石英晶体谐振器都有一个串联谐振频率(fs,最低阻抗的频率)。在此频率下,晶体在电路中表现为阻性。通过增加与晶体串联的电抗(电容),可以将晶体从这个串联频率中“拉出来”。当与外部负载电容(CL)一起工作时,晶体在略高于其串联谐振频率的频率范围内振荡。这是并联(负载谐振)频率。

订购并联晶振时,务必指定标称并联谐振频率和负载电容,单位为皮法(pF)。例如,可以订购CL的标准值(如15pF );然后计算电容值以匹配晶体C1。
负载频率取决于CL值,其公式如下所示。


如果输出晶振频率高于目标频率,则应增加外部电容CL(或Cd & Cg的值),以将频率降至目标频率。

另一种方法是,如果频率高于中心频率,则采用电容较低的晶体。


晶体的频率牵引能力不够或牵引范围不对称。

(1)如下图所示,电路的负载电容与牵拉性成反比。结果表明,负载电容越小,频率牵引范围越大,反之亦然。
(2)另一方面,晶体特性也影响频率牵引范围。例如,有配平灵敏度(TS)、一氧化碳和C1。负载电容增量变化的小数频率变化称为TS。当C1变大或Co变小时,频率牵引能力变大。
(3)如果提拉范围不对称,即一边提拉不够,另一边提拉太大,我们可以调整晶体的负载电容值。


pcba上的负载晶体频率具有扩展分布。

由于频率牵引能力和负载电容之间的关系,负载电容越小,频率变化越敏感。以下步骤如下所示。
(1)增加负载电容,Cg和Cd,使用CL较大的晶体。
(2)使用更精确的电容Cg和Cd。
(3)使用更精确的晶体。


产品的通病

1.可以使用一般的清洁溶液或超声波清洁方法来清洁我们的产品。但是,在某些情况下,超声波清洗机可能会在我们产品的振荡频率下产生共振,从而恶化器件的电气特性,甚至损坏器件的整体结构。因此,建议在清洗前进行验证试验。
2.音叉产品在接近超声波清洗机清洗频率的频带上振荡,这可能会引起谐振,恶化设备的电气特性,甚至损坏设备的整体结构。因此,应避免使用超声波清洗机清洗音叉装置。如果需要使用这种方法清洁音叉装置,建议在清洁过程前后检查装置的功能。
3.为防止干扰,布局时请避开产品下方的任何电路。
4.当数据表标有“NC”或“请勿连接”时,请不要连接任何电路,以避免功能出错。
5.避免通过超声波焊接进行安装和加工,这种方法有可能使过度振动在晶振产品内部传播,并成为特性恶化和不振动的原因。


顾客购买水晶时,需要哪些参数?

主要信息:
标称频率、负载电容、公差(+/-ppm)
次要信息:(取决于Siward或行业标准)
尺寸、ESR(等效串联电阻)、C0(并联电容)、工作温度范围。


晶体石英的切割角度如何影响温度特性?

自从发现石英晶体中的压电效应以来,当晶体受到机械压力时,在晶体的某些面上会出现电势。

根据对石英条的不同切割角度,有不同种类的石英板,例如AT、BT、CT-切割板。不同类型的石英切割具有不同的可用弹性、压电和不同的特性,这些特性是设计石英晶体器件的基本参数。最常用的石英切割类型是AT切割角+35° 15 ’,如下图所示。


特别是AT切角的频率-温度特性比其他切角更稳定。



水晶石英的at切割有什么特点?

AT切割是石英晶体设备中最常见的切割角度。温度系数仅由温度偏差的三阶函数决定。此外,它在很宽的温度范围内具有出色的频率稳定性。晶体频率-温度特性的规格由切割角和工作温度范围的微调决定。该图如下所示:



晶体CL和PCBA CL不匹配对输出频率有什么影响?

我们生产水晶CL来满足客户的要求。标称频率是指晶体CL和PCBA CL在振荡器电路中相遇(无频率偏差),以满足客户需求。
如果PCBA的CL高于晶体,则输出频率应该低于标称频率。
如果PCBA的CL低于晶体,则输出频率应该高于标称频率。


CL怎么算?

使用此公式估算所需电容值:

CL=((C1 x C2) / (C1 + C2)) + C杂散

Cg和Cd是皮尔斯振荡电路中的外部电容

Cs是电路中的杂散电容,典型值为2-5pF。



晶振编码查询 品牌 描述 系列 频率 频率稳定性
XTL721-Q23-048 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768kHz ±20ppm
XTL721-S349-005 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768kHz ±20ppm
XTL721-S999-301 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768kHz ±20ppm
XTL721-S999-429 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768kHz ±20ppm
XTL741-S999-319 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768kHz ±20ppm
XTL741-U11-402 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768kHz ±20ppm
XTL741-S999-298 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768kHz ±20ppm
XTL741-S999-379 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768kHz ±20ppm
XTL741-S999-327 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL74 32.768kHz ±20ppm
XTL721-S999-286 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL72 32.768kHz ±20ppm
XTL751-S999-544 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768kHz ±20ppm
XTL751-S999-548 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768kHz ±20ppm
XTL751-S999-420 Siward希华 CRYSTAL 32.768KHz 20PPM CRYSTAL XTL75 32.768kHz ±20ppm