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陶瓷晶振,陶瓷谐振器,ZTT16M晶振

频率:1.79MHZ-60MHZ 尺寸:7*7mm ZTT系列是在原有的ZTA晶振内部添加了内置负载电容,引线脚于原来的二脚演变成三脚直插式,这样一来减去了外部线路设计时可以省去电容部分,大大减少了线路空间,且可减少元器件的数量,增加稳定性,减小尺寸,为电路设计者们提供了非常的方便,并且外形尺寸也没有太大的改变。此规格的频率范围在 2.0 MHz 至 60.00 MHz,频率公差为 ±0.5%,±0.3%。
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TC-1

陶瓷晶振,陶瓷谐振器,ZTT16M晶振,插件三脚陶瓷晶振跟贴片的区别在于SMD是编带方式包装,焊接方面支持表面贴装,可对应产品应用到自动贴片机高速安装,是指晶振内部本身有自带负载电容的陶瓷些振器,“压电陶瓷”, CR,LC电路不同,陶瓷振荡子利用的是机械谐振而不是像压电石英晶体一样电谐振的方式起振.

TC-2

陶瓷晶振

频率范围
(MHz)

频率精度
(at 25°C) (%)

温度稳定性
(-20°C ~ +80°C) (%)

工作温度
(°C)

老化率(10)
(%)

ZTT***MG

1.79 ~ 6.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

ZTTWS***MG

1.79 ~ 6.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

ZTTLS***MG

3.00 ~ 8.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

ZTTRS***MG

3.00 ~ 10.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

ZTT***MT

6.00 ~ 13.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

ZTT***MX

12.00 ~ 60.00

±0.5

±0.3

-20 ~ +80

±0.3

TC-3

ZTT尺寸

TC-4


测试

3-1   测试条件

参考温度应为25℃±2℃除非结果有不正确时,测量温度范围应在5~35℃中进行。

3-2   电路和仪器测试

振荡频率应由图1所示之标准测试电路测试,谐振阻抗应由HP8751A网络分析仪测试

四、湿度、温度测试

4-1   湿度试验

         谐振器放于40℃±2℃,相对温度为90~95%的潮湿试验箱中96个小时,然后将谐振器放于室温1小时后,再进行测试,其技术指标应符合表1中的规格。

4-2   高温试验

将谐振器放于85℃±5℃的烘箱中96个小时,然后将谐振器放于室温1小时后,再进行测试,其技术标准应符合表1中的规格。

4-3   低温试验

将谐振器放于-30℃±5℃的冻箱中96个小时,然后将谐振器放于室温1小时后,再进行测试,其技术标准应符合表1中的规格。

4-4   温度循环

         将谐振器放于低温为–55℃±5℃中的30分钟,取出后再置于+85℃±5℃的烘箱中30分钟,如此循环5次后存放15分钟于室温。然后将谐振器放于室温2小时后,再进行测试,陶瓷晶振,陶瓷谐振器,ZTT16M晶振

TC-6

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