陶瓷晶振,陶瓷插件晶振,455C28晶振,中频压电陶瓷晶振千赫系列产品,经过长期开发研究,现在大部分频点均已量产,并且长期备有现货,频点多元化,多种款型,型号,体积,封装,引进插件晶振以及贴片晶振模式供客户选用.所有生产的陶瓷晶振均经过严格宽温度范围内和长期老化试验,确保客户在使用过程中保持稳定,
陶瓷谐振器 型 号 |
频率精度 |
谐振阻抗 |
温度稳定性 |
老化率(10年)(%) |
负载电容(pF) |
|
C1 |
C2 |
|||||
ZTB82 ~ ZTB189 * |
±2kHz |
≤20 |
±0.3 |
±0.3 |
/ |
/ |
ZTB190D ~ ZTB249D |
±1kHz |
≤20 |
±0.3 |
±0.3 |
330 |
470 |
ZTB250D ~ ZTB374D |
±1kHz |
≤20 |
±0.3 |
±0.3 |
220 |
470 |
ZTB375P ~ ZTB429P |
±2kHz |
≤20 |
±0.3 |
±0.3 |
120 |
470 |
ZTB430E ~ ZTB509E |
±2kHz |
≤20 |
±0.3 |
±0.3 |
100 |
100 |
ZTB510P ~ ZTB699P |
±2kHz |
≤30 |
±0.3 |
±0.3 |
100 |
100 |
ZTB700J ~ ZTB999J |
±0.5% |
≤70 |
±0.3 |
±0.3 |
100 |
100 |
ZTB1000J ~ ZTB1250J |
±0.5% |
≤100 |
±0.3 |
±0.3 |
100 |
100 |
耐焊接热,试验条件 将引线浸入260℃±5℃的焊锡槽中,浸入深度至引线根部2mm处,时间10S±1S,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。
要求电性能满足2.1∽2.4的规定,外观无可见损伤。
可焊性试验条件将引线浸入230℃±5℃的焊锡槽中,浸入深度至引线根部2mm处,时间5S±1S。要求 焊锡良好覆盖的面积应不少于浸锡面积的95%。
高温试验,试验条件温度85℃±2℃,时间96小时,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
低温试验,试验条件温度-25℃±2℃,时间96小时,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。
陶瓷晶振要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
恒定湿热,试验条件 温度40℃±2℃,相对温度90%∽95%,时间96小时,在室温条件下恢复24小时后进行测量。
陶瓷晶振要求电性能满足2.1∽2.4的规定。
温度变化试验,试验条件试验温度-20℃.+80℃,转换时间2-3min,循环次数5次,在室温条件下恢复24小时后进行测量。要求电性能满足2.1∽2.4的规定。陶瓷晶振,陶瓷插件晶振,455C28晶振
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