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陶瓷晶振,陶瓷插件晶振,455C28晶振

频率:2KHZ-50MHZ 尺寸:5*7mm 因为目前IC芯片发展的迅速,部分插件的陶瓷谐振器要么被集成,要么陶瓷谐振器精度不够,被石英晶振取代,所以现在现在陶瓷晶振正处于下滑阶段,产量以及用量在逐步缩小,陶瓷谐振器具有对激励信号频率十分敏感的突出特点,当外加的交流电场的频率和谐振器的谐振频率发生共振时,电能和机械能的转换会发生在谐振器的谐振频率上。
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TC-1

陶瓷晶振,陶瓷插件晶振,455C28晶振,中频压电陶瓷晶振千赫系列产品,经过长期开发研究,现在大部分频点均已量产,并且长期备有现货,频点多元化,多种款型,型号,体积,封装,引进插件晶振以及贴片晶振模式供客户选用.所有生产的陶瓷晶振均经过严格宽温度范围内和长期老化试验,确保客户在使用过程中保持稳定,

TC-2

陶瓷谐振器

频率精度
(at 25°C)

谐振阻抗
(Ω)

温度稳定性
(-20°C~+80°C)(%)

老化率(10)(%)

负载电容(pF)

C1

C2

ZTB82 ~ ZTB189 *

±2kHz

≤20

±0.3

±0.3

/

/

ZTB190D ~ ZTB249D

±1kHz

≤20

±0.3

±0.3

330

470

ZTB250D ~ ZTB374D

±1kHz

≤20

±0.3

±0.3

220

470

ZTB375P ~ ZTB429P

±2kHz

≤20

±0.3

±0.3

120

470

ZTB430E ~ ZTB509E

±2kHz

≤20

±0.3

±0.3

100

100

ZTB510P ~ ZTB699P

±2kHz

≤30

±0.3

±0.3

100

100

ZTB700J ~ ZTB999J

±0.5%

≤70

±0.3

±0.3

100

100

ZTB1000J ~ ZTB1250J

±0.5%

≤100

±0.3

±0.3

100

100

TC-3


TC-4

耐焊接热,试验条件     将引线浸入260℃±5℃的焊锡槽中,浸入深度至引线根部2mm处,时间10S±1S,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。

要求电性能满足2.12.4的规定,外观无可见损伤。

可焊性试验条件将引线浸入230℃±5℃的焊锡槽中,浸入深度至引线根部2mm处,时间5S±1S。要求      焊锡良好覆盖的面积应不少于浸锡面积的95%

高温试验,试验条件温度85℃±2℃,时间96小时,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。要求电性能满足2.12.4的规定。

低温试验,试验条件温度-25℃±2℃,时间96小时,在室温条件下恢复24±2小时后进行测量。

陶瓷晶振要求电性能满足2.12.4的规定。

恒定湿热,试验条件     温度40℃±2℃,相对温度90%95%,时间96小时,在室温条件下恢复24小时后进行测量。

陶瓷晶振要求电性能满足2.12.4的规定。

温度变化试验,试验条件试验温度-20.+80℃,转换时间2-3min,循环次数5次,在室温条件下恢复24小时后进行测量。要求电性能满足2.12.4的规定。陶瓷晶振,陶瓷插件晶振,455C28晶振

TC-6

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